薄膜傳感器制備設備
主要技術指標:1.磁控濺射(離子源沉積)鍍膜設備技術指標:?滿足樣品尺寸:長250mm×寬200mm×厚150mm;?有效鍍膜區域:150mm×100mm;?極限真空:小于7.0×10-5Pa(環境濕度≤55%);?真空室漏氣率:≤5.0×10-8Pa·L/s;?抽氣速率:系統短時間暴露大氣并充干燥N2開始抽氣,分子泵正常工作后濺射室60分鐘可達到8.0×10-4Pa;?真空獲得系統停泵關機12小時后真空度:≤5Pa;?氣路:三路氣路,包含氬氣、氧氣、氮氣;?滿足濺射材料:金屬、合金等導電材料,特別是Al、NiCrAlY、NiCr/NiSi、Pt/PtRh等材料;?濺射靶:磁控濺射靶兩只;?濺射不均勻性:≤±5%(150mm×100mm范圍內);?工件臺旋轉:轉速1~35rpm可調;?樣品加熱:樣品表面溫度可達600℃,自動測溫、控溫,多段控溫模式。2.電子束蒸發鍍膜設備技術指標?滿足樣品尺寸:長250mm×寬200mm×厚150mm;?有效鍍膜區域:150mm×100mm;?極限真空:小于7.0×10-5Pa(環境濕度≤55%);?真空室漏氣率:≤5.0×10-8Pa·L/s;?抽氣速率:系統短時間暴露大氣并充干燥N2開始抽氣,分子泵正常工作后真空室60分鐘可達到8.0×10-4Pa;?滿足蒸發材料:Al2O3等絕緣材料;?蒸發濺射不均勻性:≤±6%(平面樣品150mm×100mm范圍內);?離子源:出口束徑不小于Φ150mm,滿足清洗和輔助沉積功能;?氣路兩路,可控制O2、Ar2;?件臺旋轉:可自轉,轉速1~35rpm可調;?樣品加熱:樣品最高可達800℃,自動測溫、控溫,多段控溫模式;?在線膜厚監測系統:監測厚度顯示范圍:0~99μ9999?,厚度顯示分辨率:1?,速率顯示范圍:0~9999.9?,速率顯示分辨率:0.1?。
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產品分類:
詳細介紹
- ?滿足樣品尺寸:長250mm×寬200mm×厚150mm;
- ?有效鍍膜區域:150mm×100mm;
- ?極限真空:小于7.0×10-5Pa(環境濕度≤55%);
- ?真空室漏氣率:≤5.0×10-8Pa·L/s;
- ?抽氣速率:系統短時間暴露大氣并充干燥N2開始抽氣,分子泵正常工作后濺射室60分鐘可達到8.0×10-4Pa;
- ?真空獲得系統停泵關機12小時后真空度:≤5Pa;
- ?氣路:三路氣路,包含氬氣、氧氣、氮氣;
- ?滿足濺射材料:金屬、合金等導電材料,特別是Al、NiCrAlY、NiCr/NiSi、Pt/PtRh等材料;
- ?濺射靶:磁控濺射靶兩只;
- ?濺射不均勻性:≤±5%(150mm×100mm范圍內);
- ?工件臺旋轉:轉速1~35rpm可調;
- ?樣品加熱:樣品表面溫度可達600℃,自動測溫、控溫,多段控溫模式。
- ?滿足樣品尺寸:長250mm×寬200mm×厚150mm;
- ?有效鍍膜區域:150mm×100mm;
- ?極限真空:小于7.0×10-5Pa(環境濕度≤55%);
- ?真空室漏氣率:≤5.0×10-8Pa·L/s;
- ?抽氣速率:系統短時間暴露大氣并充干燥N2開始抽氣,分子泵正常工作后真空室60分鐘可達到8.0×10-4Pa;
- ?滿足蒸發材料:Al2O3等絕緣材料;
- ?蒸發濺射不均勻性:≤±6%(平面樣品150mm×100mm范圍內);
- ?離子源:出口束徑不小于Φ150 mm,滿足清洗和輔助沉積功能;
- ?氣路兩路,可控制O2、Ar2;
- ?件臺旋轉:可自轉,轉速1~35rpm可調;
- ?樣品加熱:樣品最高可達800℃,自動測溫、控溫,多段控溫模式;
- ?在線膜厚監測系統:監測厚度顯示范圍:0~99μ9999Å,厚度顯示分辨率:1 Å,速率顯示范圍:0~9999.9 Å,速率顯示分辨率:0.1 Å。
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